METRIC IN MEASURE SPACES

METRIC IN MEASURE SPACES

Autor: James J Yeh
Wydawca: World Scientific Publishing Company
Data publikacji: 2019
ISBN: 9789813200395

Kup książkę

0

Zapłać z Klarna
14-dniowa gwarancja zwrotu pieniędzy
Measure and metric are two fundamental concepts in measuring the size of a mathematical object. Yet there has been no systematic investigation of this relation. The book closes this gap.

Może Ci się spodobać

Kup książkę0