A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imaging and optical metrology, an area of fast growth with numerous applications in nanotechnology and nanophysics. Written by the world's leading experts in the field, it fills the gap in the current literature by bridging the fields of optical imaging and metrology, and is the only up-to-date resource in terms of fundamental knowledge, basic concepts, methodologies, applications, and development trends.
Betal enkelt med kort, Klarna, Apple Pay eller Google Pay. Ikke fornøyd? Du har alltid 14 dagers angrerett. Les mer i våre vilkår. Har du spørsmål, send oss en e-post på hello@memmo.org.
Memmo gjør det enklere å studere – uansett hvor du er i verden. Hos oss samler du pensumbøker og smarte studieverktøy på ett og samme sted: sammendrag, quizer, podkaster og flashcards. Og så Ted, din studiekompis som svarer på alt du lurer på. Over 50 000 studenter studerer allerede her – bygget for at du skal lære raskere og stresse mindre.