Starting with the fundamentals of electrical measurements on semiconductor interfaces, it then describes the importance of controlling macroscopic electrical properties by atomic-scale techniques. Subsequent chapters present the wide range of surface and interface techniques available to characterize electronic, optical, chemical, and structural properties of electronic materials, including semiconductors, insulators, nanostructures, and organics. The essential physics and chemistry underlying each technique is described in sufficient depth with references to the most authoritative sources for more exhaustive discussions, while numerous examples are provided throughout to illustrate the applications of each technique.
With its general reading lists, extensive citations to the text, and problem sets appended to all chapters, this is ideal for students of electrical engineering, physics and materials science. It equally serves as a reference for physicists, material science and electrical and electronic engineers involved in surface and interface science, semiconductor processing, and device modeling and design.
This is a coproduction of Wiley and IEEE
* Free solutions manual available for lecturers at www.wiley-vch.de/supplements/
Maksa helposti kortilla, Klarnalla, Apple Paylla tai Google Paylla. Etkö ole tyytyväinen? Sinulla on aina 14 päivän palautusoikeus. Lue lisää ehdoistamme. Jos sinulla on kysyttävää, lähetä meille sähköpostia osoitteeseen hello@memmo.org.
Memmo tekee opiskelusta helpompaa – missä päin maailmaa ikinä oletkin. Meillä yhdistät kurssikirjat ja fiksut opiskelutyökalut yhteen paikkaan: tiivistelmät, visat, podcastit ja muistikortit. Ja sitten Ted, opiskelukaverisi, joka vastaa kaikkeen, mitä ikinä mietitkin. Yli 50 000 opiskelijaa opiskelee jo täällä – rakennettu auttamaan sinua oppimaan nopeammin ja stressaamaan vähemmän.