Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry.
From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett)
"... a useful resource..."
(Journal of the American Chemical Society)
From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett)
"... a useful resource..."
(Journal of the American Chemical Society)
Maksa helposti kortilla, Klarnalla, Apple Paylla tai Google Paylla. Etkö ole tyytyväinen? Sinulla on aina 14 päivän palautusoikeus. Lue lisää ehdoistamme. Jos sinulla on kysyttävää, lähetä meille sähköpostia osoitteeseen hello@memmo.org.
Memmo tekee opiskelusta helpompaa – missä päin maailmaa ikinä oletkin. Meillä yhdistät kurssikirjat ja fiksut opiskelutyökalut yhteen paikkaan: tiivistelmät, visat, podcastit ja muistikortit. Ja sitten Ted, opiskelukaverisi, joka vastaa kaikkeen, mitä ikinä mietitkin. Yli 50 000 opiskelijaa opiskelee jo täällä – rakennettu auttamaan sinua oppimaan nopeammin ja stressaamaan vähemmän.