The basics, present status and future prospects of high-resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) are described in the form of a textbook for advanced undergraduates and graduate students. This volume covers recent achievements in the field of STEM obtained with advanced technologies such as spherical aberration correction, monochromator, high-sensitivity electron energy loss spectroscopy and the software of image mapping. The future prospects chapter also deals with z-slice imaging and confocal STEM for 3D analysis of nanostructured materials.
Betal enkelt med kort, Klarna, Apple Pay eller Google Pay. Ikke fornøyd? Du har alltid 14 dagers angrerett. Les mer i våre vilkår. Har du spørsmål, send oss en e-post på hello@memmo.org.
Memmo gjør det enklere å studere – uansett hvor du er i verden. Hos oss samler du pensumbøker og smarte studieverktøy på ett og samme sted: sammendrag, quizer, podkaster og flashcards. Og så Ted, din studiekompis som svarer på alt du lurer på. Over 50 000 studenter studerer allerede her – bygget for at du skal lære raskere og stresse mindre.
Du vil kanskje også like
Kjøp boken0