METRIC IN MEASURE SPACES

METRIC IN MEASURE SPACES

Auteur: James J Yeh
Uitgever: World Scientific Publishing Company
Publicatiedatum: 2019
ISBN: 9789813200395

Koop het boek

0

Betaal met Klarna
14 dagen bedenktijd
Measure and metric are two fundamental concepts in measuring the size of a mathematical object. Yet there has been no systematic investigation of this relation. The book closes this gap.

Misschien vind je dit ook leuk

Koop het boek0