Particle Characterization in Technology

Particle Characterization in Technology

Auteur: J.K. Beddow
Uitgever: CRC Press
Editie: 1
Publicatiedatum: 2018
ISBN: 9781315896267

Koop het boek

0

Betaal met Klarna
14 dagen bedenktijd
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Misschien vind je dit ook leuk

Koop het boek0