Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry.
From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett)
"... a useful resource..."
(Journal of the American Chemical Society)
From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett)
"... a useful resource..."
(Journal of the American Chemical Society)
Paga facilmente con carta, Klarna, Apple Pay o Google Pay. Non sei soddisfatto? Hai sempre 14 giorni per il rimborso. Leggi di più nei nostri termini. Per qualsiasi domanda, scrivici a hello@memmo.org.
Memmo rende lo studio più facile, ovunque tu sia nel mondo. Qui trovi i tuoi libri di testo e strumenti di studio intelligenti, tutto in un unico posto: riassunti, quiz, podcast e flashcard. E poi c'è Ted, il tuo compagno di studio che risponde a ogni tua domanda. Oltre 50.000 studenti studiano già qui: è stato creato per aiutarti a imparare più velocemente e a stressarti meno.