This book provides a comprehensive overview of stacking faults in crystal structures. Subjects covered include: notations used in representations of close-packed structures; types of faults; methods of detection and measurement such as X-ray diffraction, electron diffraction and other techniques; theoretical models of non-random faulting during phase transitions; specific examples of - close packed structures including, zinc sulphide, silicon carbide and silver iodide.
Maksa helposti kortilla, Klarnalla, Apple Paylla tai Google Paylla. Etkö ole tyytyväinen? Sinulla on aina 14 päivän palautusoikeus. Lue lisää ehdoistamme. Jos sinulla on kysyttävää, lähetä meille sähköpostia osoitteeseen hello@memmo.org.
Memmo tekee opiskelusta helpompaa – missä päin maailmaa ikinä oletkin. Meillä yhdistät kurssikirjat ja fiksut opiskelutyökalut yhteen paikkaan: tiivistelmät, visat, podcastit ja muistikortit. Ja sitten Ted, opiskelukaverisi, joka vastaa kaikkeen, mitä ikinä mietitkin. Yli 50 000 opiskelijaa opiskelee jo täällä – rakennettu auttamaan sinua oppimaan nopeammin ja stressaamaan vähemmän.
Saatat pitää myös näistä
Osta kirja0