Ion Beam Analysis

Ion Beam Analysis

Tekijä: Michael Nastasi, James W. Mayer, Yongqiang Wang
Kustantaja: CRC Press
Painos: 1
Julkaisuvuosi: 2014
ISBN: 9780367445843

Osta kirja

0

Maksa Klarnalla
14 päivän palautusoikeus
Ion Beam Analysis: Fundamentals and Applications explains the basic characteristics of ion beams as applied to the analysis of materials, as well as ion beam analysis (IBA) of art/archaeological objects. It focuses on the fundamentals and applications of ion beam methods of materials characterization.The book explains how ions interact with solids

Saatat pitää myös näistä

Osta kirja0