This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
“Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com”
Paga fácilmente con tarjeta, Klarna, Apple Pay o Google Pay. ¿No estás contento? Siempre tienes 14 días de garantía de devolución. Lee más en nuestros términos. Si tienes preguntas, escríbenos a hello@memmo.org.
Memmo hace que estudiar sea más fácil, estés donde estés. Aquí tienes tus libros de texto y herramientas de estudio inteligentes en un solo lugar: resúmenes, quizzes, podcasts y flashcards. Y también a Ted, tu compañero de estudio que responde a todo lo que te preguntes. Más de 50 000 estudiantes ya estudian aquí. Está hecho para que aprendas más rápido y te estreses menos.