Machine Vision Inspection Systems (MVIS) is a multidisciplinary research field that emphasizes image processing, machine vision and, pattern recognition for industrial applications. Inspection techniques are generally used in destructive and non-destructive evaluation industry. Now a day's the current research on machine inspection gained more popularity among various researchers, because the manual assessment of the inspection may fail and turn into false assessment due to a large number of examining while inspection process.
This volume 2 covers machine learning-based approaches in MVIS applications and it can be employed to a wide diversity of problems particularly in Non-Destructive testing (NDT), presence/absence detection, defect/fault detection (weld, textile, tiles, wood, etc.), automated vision test & measurement, pattern matching, optical character recognition & verification (OCR/OCV), natural language processing, medical diagnosis, etc. This edited book is designed to address various aspects of recent methodologies, concepts, and research plan out to the readers for giving more depth insights for perusing research on machine vision using machine learning-based approaches.
Płać wygodnie kartą, Klarną, Apple Pay lub Google Pay. Nie jesteś zadowolony? Zawsze masz 14-dniową gwarancję zwrotu pieniędzy. Więcej przeczytasz w naszych warunkach. Masz pytania? Napisz do nas na hello@memmo.org.
Memmo ułatwia naukę – gdziekolwiek jesteś na świecie. U nas znajdziesz podręczniki i sprytne narzędzia do nauki w jednym miejscu: streszczenia, quizy, podcasty i fiszki. A do tego Ted, Twój kumpel do nauki, który odpowie na wszystko, co Cię nurtuje. Ponad 50 000 studentów już tu się uczy – stworzone, byś uczył się szybciej i mniej stresował.