Memmo - AI-verktyg och digital kurslitteratur
Etusivu
Particle Characterization in Technology
Particle Characterization in Technology
Tekijä:
J.K. Beddow
Kustantaja:
CRC Press
Painos:
1
Julkaisuvuosi:
2018
ISBN:
9781315896267
Osta kirja
Lisää vaihtoehtoja
0
Lisää ostoskoriin
Maksa Klarnalla
14 päivän palautusoikeus
Kuvaus
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.
Tuotetiedot
Toimitus ja maksu
Lisää Memmosta
Löydä lisää
Saatat pitää myös näistä
Tutustu useampiin nimikkeisiin
Osta kirja
0
Lisää vaihtoehtoja
Lisää ostoskoriin