Particle Characterization in Technology

Particle Characterization in Technology

Tekijä: J.K. Beddow
Kustantaja: CRC Press
Painos: 1
Julkaisuvuosi: 2018
ISBN: 9781315896267

Osta kirja

0

Maksa Klarnalla
14 päivän palautusoikeus
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Saatat pitää myös näistä

Osta kirja0