Electromigration in Metals

Electromigration in Metals

Tekijä: Paul S. Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev
Kustantaja: Cambridge University Press
Julkaisuvuosi: 2022
ISBN: 9781107032385

Osta kirja

0

Maksa Klarnalla
14 päivän palautusoikeus
Learn to assess electromigration reliability and design resilient chips, building from fundamental physics to advanced methodologies.

Saatat pitää myös näistä

Osta kirja0