Memmo - AI-verktyg och digital kurslitteratur
Etusivu
Electromigration in Metals
Electromigration in Metals
Tekijä:
Paul S. Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev
Kustantaja:
Cambridge University Press
Julkaisuvuosi:
2022
ISBN:
9781107032385
Osta kirja
Lisää vaihtoehtoja
0
Lisää ostoskoriin
Maksa Klarnalla
14 päivän palautusoikeus
Kuvaus
Learn to assess electromigration reliability and design resilient chips, building from fundamental physics to advanced methodologies.
Tuotetiedot
Toimitus ja maksu
Lisää Memmosta
Löydä lisää
Saatat pitää myös näistä
Tutustu useampiin nimikkeisiin
Osta kirja
0
Lisää vaihtoehtoja
Lisää ostoskoriin