Particle Characterization in Technology

Particle Characterization in Technology

Autore: J.K. Beddow
Editore: CRC Press
Edizione: 1
Data di pubblicazione: 2018
ISBN: 9781315896267

Acquista il libro

0

Paga con Klarna
Garanzia di rimborso di 14 giorni
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Potrebbe interessarti anche

Acquista il libro0