Containing more than 300 equations and nearly 500 drawings, photographs, and micrographs,
this reference surveys key areas such as optical measurements and in-line calibration methods. It describes cleanroom-based measurement technology used during the manufacture of silicon integrated circuits and covers model-based, critical dimension, overlay
Pagine: 896
Categoria: Ingenjörsvetenskap
e-ISBN: 9781135554835
Peso di spedizione: 1.2 kg
Spedito in: 1-2 giorni
Paga facilmente con carta, Klarna, Apple Pay o Google Pay. Non sei soddisfatto? Hai sempre 14 giorni per il rimborso. Leggi di più nei nostri termini. Per qualsiasi domanda, scrivici a hello@memmo.org.
Memmo rende lo studio più facile, ovunque tu sia nel mondo. Qui trovi i tuoi libri di testo e strumenti di studio intelligenti, tutto in un unico posto: riassunti, quiz, podcast e flashcard. E poi c'è Ted, il tuo compagno di studio che risponde a ogni tua domanda. Oltre 50.000 studenti studiano già qui: è stato creato per aiutarti a imparare più velocemente e a stressarti meno.
Potrebbe interessarti anche
Acquista il libro0