A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imaging and optical metrology, an area of fast growth with numerous applications in nanotechnology and nanophysics. Written by the world's leading experts in the field, it fills the gap in the current literature by bridging the fields of optical imaging and metrology, and is the only up-to-date resource in terms of fundamental knowledge, basic concepts, methodologies, applications, and development trends.
Betal nemt med kort, Klarna, Apple Pay eller Google Pay. Ikke tilfreds? Du har altid 14 dages fortrydelsesret. Læs mere i vores vilkår. Har du spørgsmål, så send os en mail på hello@memmo.org.
Memmo gør det nemmere at studere – uanset hvor du er i verden. Hos os samler du dine kursusbøger og smarte studieværktøjer ét sted: resuméer, quizzer, podcasts og flashcards. Og så er der Ted, din studieven, der svarer på alt, du undrer dig over. Over 50 000 studerende studerer allerede her – bygget til at hjælpe dig med at lære hurtigere og stresse mindre.