This book provides a comprehensive overview of stacking faults in crystal structures. Subjects covered include: notations used in representations of close-packed structures; types of faults; methods of detection and measurement such as X-ray diffraction, electron diffraction and other techniques; theoretical models of non-random faulting during phase transitions; specific examples of - close packed structures including, zinc sulphide, silicon carbide and silver iodide.
Betal nemt med kort, Klarna, Apple Pay eller Google Pay. Ikke tilfreds? Du har altid 14 dages fortrydelsesret. Læs mere i vores vilkår. Har du spørgsmål, så send os en mail på hello@memmo.org.
Memmo gør det nemmere at studere – uanset hvor du er i verden. Hos os samler du dine kursusbøger og smarte studieværktøjer ét sted: resuméer, quizzer, podcasts og flashcards. Og så er der Ted, din studieven, der svarer på alt, du undrer dig over. Over 50 000 studerende studerer allerede her – bygget til at hjælpe dig med at lære hurtigere og stresse mindre.
Du kan måske også lide
Køb bogen0