Particle Characterization in Technology

Particle Characterization in Technology

Forfatter: J.K. Beddow
Forlag: CRC Press
Udgave: 1
Udgivelsesdato: 2018
ISBN: 9781315896267

Køb bogen

0

Betal med Klarna
14 dages fortrydelsesret
The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Du kan måske også lide

Køb bogen0