Containing more than 300 equations and nearly 500 drawings, photographs, and micrographs,
this reference surveys key areas such as optical measurements and in-line calibration methods. It describes cleanroom-based measurement technology used during the manufacture of silicon integrated circuits and covers model-based, critical dimension, overlay
Sider: 896
Kategori: Ingenjörsvetenskap
e-ISBN: 9781135554835
Forsendelsesvægt: 1.2 kg
Sendes inden for: 1-2 dage
Betal nemt med kort, Klarna, Apple Pay eller Google Pay. Ikke tilfreds? Du har altid 14 dages fortrydelsesret. Læs mere i vores vilkår. Har du spørgsmål, så send os en mail på hello@memmo.org.
Memmo gør det nemmere at studere – uanset hvor du er i verden. Hos os samler du dine kursusbøger og smarte studieværktøjer ét sted: resuméer, quizzer, podcasts og flashcards. Og så er der Ted, din studieven, der svarer på alt, du undrer dig over. Over 50 000 studerende studerer allerede her – bygget til at hjælpe dig med at lære hurtigere og stresse mindre.
Du kan måske også lide
Køb bogen0